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  • UPK-T24水浸式超聲C掃描系統

    水浸超聲C掃描系統,是新一代數字化、模塊化、計算機插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成(chéng)像系統。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。 水浸式超聲C掃描系統 主要用于高分子材料、飛機用纖維複合材料、構件等的内部分層、脫粘、夾雜、空洞、孔洞等缺陷的無損檢測和評價。可用于實驗室研究,又可用于生産過程的質量檢驗及零部件探傷。

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    廠商性質:生産廠家
    産地:香港特别行政區
  • UPK-T24美國中小型水浸式超聲C掃描系統

    名稱:美國中小型水浸式超聲C掃描系統$n 型号:UPK-T10,UPK-T24,UPK-T36,UPK-T48,UPK-T60,UPK-T72等。$n 産地:美國$n 應用:進行高分子材料、複合材料、構件内部分層、脫粘、夾雜等缺陷的無損檢測和評價。

    訪問量:2823
    廠商性質:生産廠家
    産地:國外
  • T156美國大型水浸超聲C掃描檢測系統

    名稱:美國大型水浸超聲C掃描檢測系統$n品牌/産地:美國$n型号:T156,T240,T264,T480$n應用:進行高分子材料、複合材料、靶材、焊縫、構件内部分層、脫粘、夾雜等缺陷的無損檢測和評價。

    訪問量:4801
    廠商性質:生産廠家
    産地:國外
  • ANA6000P-H卧式光彈系數測試儀

    卧式光彈系數測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以通過模型在實驗室内進行大型建築構件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試,并可以在模型上直接看到被(bèi)測件的全部應力分布和應力集中情況。

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    廠商性質:生産廠家
    産地:北京市
  • ANA6000P-V立式光彈測試儀

    立式光彈測試儀:光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

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    廠商性質:生産廠家
    産地:北京市
  • FF35 CT計算機斷層掃描系統

    FF35 CT 計算機斷層掃描系統非常适合檢查您的中小型産品:電子元件如SMD,導體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統,MEMS,MOEMS,療器械如空心,小金屬零件即注塑模具,電子設備,小鑄件。

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    廠商性質:生産廠家
    産地:國外
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