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立式光彈測試儀

簡要描述:立式光彈測試儀:光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

  • 産品型号:ANA6000P-V
  • 廠商性質:生産廠家
  • 更新時間:2024-03-14
  • 訪  問  量:512

詳細介紹

産品簡介:

産品名稱:立式光彈測試儀

  号:ANA6000P-V

  用:測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

安賽斯立式光彈測試儀:光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀主要技術參數:

1.       測試面(miàn)積(即光源尺寸)

标準尺寸爲300 mm×300mm,其它尺寸可以定制,最大600mm×500mm

2.       相機參數

2248*2048原始分辨率,輸出41224*1024的偏振圖像。幀率3679

3.       應力雙折射量程

基本型: 量程爲工作波長的1/4(以紅光爲例,量程即157.5nm);

增強型:2296nm。需要采用藍、綠兩種顔色的光源進行測試,并進行相位解包裹處理;

 3.  測試分辨率與精度

0.8mm 厚的鈣鈉玻璃爲例:應力測試的分辨率爲 0.2MPa:應力測試的精度:1.0MPa

應力雙折射的測試分辨率:0.1nm, 精度:1.0nm

産品特色:

與傳統/常規的光彈儀相比,本立式光彈測試儀具有如下特點:

1.     結構簡單

主要部件包括:偏振光源、傾斜平台(用于晶體試件測試)、濾光片轉輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦(内存 16G 以上)及處理軟件,不含任何可旋轉的光學偏振器件。

2.     操作簡單,可以實現快速甚至實時測試

隻需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應力方向(xiàng)場,避免了傳統方法在定量測試時的複雜操作,且在平面(miàn)應力的條件下可以分離出各應力分量;

3.     靈敏度高且不受環境光的幹擾

測試靈敏度是傳統光彈法/設備的兩倍(物理靈敏度),且無論相位差多小,都(dōu)可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高);由于采用不同偏振圖像之間的相減運算,使得測試幾乎不受環境光的幹擾。

4.     多種測試波長可選并快速切換

切換方式包括RGB 三色 LED 光源(中心波長分别爲:625nm525nm 465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。

5.     可以根據客戶要求定制産品

在某些特殊情況下,客戶需要用自己的相機和光源,我們可以根據需要對産品進行定制,滿足客戶的需要。

安賽斯光彈儀工作原理

設:圓盤試件(直徑D, 厚度d)受對徑壓縮載荷 F 的作用,試件中心點O 的主應力分别是:

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根據應力-光學定律,應力雙折射材料的主應力差與相位差(ϕ)的關系如下:

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其中C 爲待求的光彈系數,λ 爲測試光的波長。

將(jiāng)(1)(2)關聯起(qǐ)來,有:

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通過光彈實驗确定圓形試件中心點的位相差ϕ,即可得到光彈系數。


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實驗示意及應用範圍:

  立式光彈儀利用應力雙折射性質,在工程上可以制成(chéng)各種機械零件的透明塑料模型,然後模拟零件的受力情況,觀察、分析偏振光幹涉的色彩和條紋分布,從而判斷零件内部的應力分布。

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應力雙折射信息


圓盤徑向(xiàng)受壓實驗:


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U型塊壓彎組合實驗:

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光彈性方法直觀,能(néng)直接顯示應力集中區域,并準确給出應力集中部分的量值;它不但可以得到便捷應力而且能(néng)夠求的結構的内部應力。特别是這一方法不受形狀和載荷的限制,可以對工程複雜結構進行應力分析。

獲取更多立式光彈儀産品咨詢,請聯系安賽斯(ANALYSIS)工作人員,400 8816 976






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