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水浸超聲C掃描系統，是新一代數字化、模塊化、計算機插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成(chéng)像系統。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。 水浸式超聲C掃描系統 主要用于高分子材料、飛機用纖維複合材料、構件等的内部分層、脫粘、夾雜、空洞、孔洞等缺陷的無損檢測和評價。可用于實驗室研究，又可用于生産過程的質量檢驗及零部件探傷。
名稱：美國中小型水浸式超聲C掃描系統$n 型号：UPK-T10，UPK-T24，UPK-T36，UPK-T48，UPK-T60，UPK-T72等。$n 産地：美國$n 應用：進行高分子材料、複合材料、構件内部分層、脫粘、夾雜等缺陷的無損檢測和評價。
名稱：美國大型水浸超聲C掃描檢測系統$n品牌/産地：美國$n型号：T156，T240，T264，T480$n應用：進行高分子材料、複合材料、靶材、焊縫、構件内部分層、脫粘、夾雜等缺陷的無損檢測和評價。
卧式光彈系數測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以通過模型在實驗室内進行大型建築構件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試，并可以在模型上直接看到被(bèi)測件的全部應力分布和應力集中情況。
立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光幹涉原理對應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學構件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力，以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。
FF35 CT 計算機斷層掃描系統非常适合檢查您的中小型産品：電子元件如SMD，導體封裝，材料探針（如金屬，塑料，CFRP），系統，MEMS，MOEMS，療器械如空心，小金屬零件即注塑模具，電子設備，小鑄件。
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