産品介紹:
名稱：德國超聲波掃描顯微鏡
型号：V-700E
産地：德國
應用：晶圓面(miàn)處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能(néng)之孔洞（晶圓接合面(miàn)、錫球、填膠…等）
應 用:
超聲波掃描顯微鏡的應用領域：
- 半導體電子行業：半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
- 材料行業：複合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面(miàn)等；
- 生物醫學：活體細胞動态研究、骨骼、血管的研究等
超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應用：
- 晶圓面(miàn)處分層缺陷
- 錫球、晶圓、或填膠中的開裂
- 晶圓的傾斜
- 各種可能(néng)之孔洞（晶圓接合面(miàn)、錫球、填膠…等）
超聲波顯微鏡的在失效分析中的優勢：
- 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片内部結構
- 可分層掃描、多層掃描
- 實施、直觀的圖像及分析
- 缺陷的測量及缺陷面(miàn)積和數量統計
- 可顯示材料内部的三維圖像
- 對人體是沒有傷害的
- 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著(zhe)物、空洞、孔洞等）
主要參數:
- - 該型号超聲波掃描顯微鏡分析系統，用于檢測大件樣品
- - 大掃描速度：2000 mm/s
- - 與其它品牌相比掃描效率高30%
- - 大掃描範圍：700mm×600mm
- - 小掃描範圍：200μm×200μm
- - 帶寬：550MHz
- - 大放大倍數：625倍
- - 新型FCT換能(néng)器
名稱：德國超聲波掃描顯微鏡
咨詢或索取詳細産品資料，請聯系ANALYSIS（安賽斯）工作人員。
